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威尔粗糙度轮廓仪检测校正流程一看就懂
时间:2020-05-08 点击次数:93
 威尔粗糙度轮廓仪是利用光学显微技术、白光干涉扫描技术、计算机软件控制技术和PZT垂直扫描技术对工件进行非接触测量,还原出工件3D表面形貌宏微观信息,并通过软件提供的多种工具对表面形貌进行各种功能参数数据处理,实现对各种工件表面形貌的微纳米测量和分析的光学计量仪器。  
 
威尔粗糙度轮廓仪只需操作者装好被测工件,在检定软件上设定物镜倍率和测量模式后点击“开始”按钮,光学物镜会对工件表面进行自动对焦和非接触扫描,并按设定的位置进行测量,软件界面会实时扫描物体宏微观表面形貌;扫描结束后,操作者可通过分析工具对生成的3D形貌进行分析,得到如轮廓、厚度、粗糙度、体积等多种表面形貌测量分析数据。那么你知道它是如何检测的吗
 
威尔粗糙度轮廓仪检测校正流程:
1.在粗糙度测量画面中,单击菜单的“校正”并选择其中的“校正”,按校正步骤进行校正。  
2.选择探针为“通常使用的探针”→选择校正方法为“利用标准片校正”→校正条件的标准值设定为标准片上的值3.21um,校正倍率选±128um→将标准片放置在水平调整台上→执行校正测量条件的设定:单击“编辑”,选择“基本条件”,测量速度选0.300mm/s,移动返回速度6.000mm/s,测量长度5λ,单击滤波器,勾选“使λs有效”,“比”设300,波长设0.8mm,单击去除形状,选择最小二乘直线,确定并执行测量。  
3.移动测针至下图位置,点击测量,将测量值与标准块标识的值进行对比,差值在±5%之内即为测针可用。如果大于±5%,需分析测量出的曲线图(纵横放大倍率分别为2万和2千倍),观察波峰波、谷是否清楚,波峰是否尖锐,否则表示测针磨损或损坏。

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