威尔粗糙度轮廓仪是利用光学显微技术、白光干涉扫描技术、计算机软件控制技术和PZT垂直扫描技术对工件进行非接触测量，还原出工件3D表面形貌宏微观信息，并通过软件提供的多种工具对表面形貌进行各种功能参数数据处理，实现对各种工件表面形貌的微纳米测量和分析的光学计量仪器。
威尔粗糙度轮廓仪只需操作者装好被测工件，在检定软件上设定物镜倍率和测量模式后点击“开始”按钮，光学物镜会对工件表面进行自动对焦和非接触扫描，并按设定的位置进行测量，软件界面会实时扫描物体宏微观表面形貌；扫描结束后，操作者可通过分析工具对生成的3D形貌进行分析，得到如轮廓、厚度、粗糙度、体积等多种表面形貌测量分析数据。那么你知道它是如何检测的吗
1.在粗糙度测量画面中，单击菜单的“校正”并选择其中的“校正”，按校正步骤进行校正。
2.选择探针为“通常使用的探针”→选择校正方法为“利用标准片校正”→校正条件的标准值设定为标准片上的值3.21um，校正倍率选±128um→将标准片放置在水平调整台上→执行校正测量条件的设定：单击“编辑”，选择“基本条件”，测量速度选0.300mm/s，移动返回速度6.000mm/s，测量长度5λ，单击滤波器，勾选“使λs有效”，“比”设300，波长设0.8mm，单击去除形状，选择小二乘直线，确定并执行测量。
3.移动测针至下图位置，点击测量，将测量值与标准块标识的值进行对比，差值在±5%之内即为测针可用。如果大于±5%，需分析测量出的曲线图（纵横放大倍率分别为2万和2千倍），观察波峰波、谷是否清楚，波峰是否尖锐，否则表示测针磨损或损坏。
